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Prof. Domenico Caputo
Area di ricerca Area didattica
INFORMAZIONI PERSONALI
Prof. Domenico Caputo
Professore Associato
Contatti
Dipartimento di Ingegneria Elettronica
Universita' di Roma "La Sapienza"
Via Eudossiana, 18
00184 Roma, Italia
Phone: 39 06 44585832
Fax: 39 06 4742647
caputo@die.uniroma1.it
http://www.die.uniroma1.it/personale/caputo
Esperienze Professionali
Marzo 2002 - Presente
Professore
Associato, Dipartimento di Ingegneria Elettronica, Universita' di Roma
“La Sapienza”, Italia
Luglio 91 – Marzo 2002
Ricercatore, Dipartimento di Ingegneria Elettronica, Universita' di
Roma “La Sapienza”, Italia
Luglio 93 - Giugno 94
Ricercatore Visitatore, Dipartimento di Ingegneria Elettronica,
Universita' di Princeton, New Jersey (USA)
Settembre 89 - Giugno 91
Borsista Consiglio Nazionale delle Ricerche, Istituto Ricerca
Elettromagnetismo e Componenti Elettronici, Napoli (Italia)
Gennaio 89 - Luglio 89
Borsista
ENI Ricerche, Roma (Italia)
AREA DI RICERCA Torna su
Campi di ricerca attuali:
- Sistemi di riconoscimento biomolecolare basati su dispositivi e
materiali a film sottili
- Fotosensori e dispositivi elettronici in silicio amorfo
idrogenato (a-Si:H) per applicazioni a larga area
- Circuiti elettronici di lettura di matrici di fotosensori
Sommario delle attività di ricerca:
- Modellizzazione e caratterizzazione di dispositivi in silicio
amorfo (a-Si:H)
- Studio dell'evoluzione temporale della densità di difetti nel
a-Si:H e in celle solari in a-Si:H
- Sviluppo di tecniche di caratterizzazione (misure di capacità in
fiunzione della tensione, frequenza e temperatura)
per la determinazione della densità di difetti in film sottili e in
dispositivi utilizzanti film sottili
- Sviluppo di fotosensori in a-Si:H per la rivelazione di
radiazione dall'ultravioletto (UV)
al vicino infrarosso (NIR)
- Sviluppo di dispositivi elettronici innovativi basati su a-Si:H
- Affidabilità di ossido di silicio (SiO2) per
applicazione in memorie non volatili (NVM)
- Caratterizzazione di film ad alta costante dielettrica
(high-k:HfO2) per applicazioni ULSI
Attività Editoriali:
- Revisore delle riviste internazionali IEEE Transactions on
Electron Devices, IEEE Electron Device Letters, IEEE Sensors,
Journal of Non Crystalline Solids, Solar Energy Materials and Solar
Cells
- Revisore delle Conferenze Internazionali Materials Research
Society Spring Meeting, European Materials Research Society Conference,
International Conference on Amorphous and Nanocrystalline
Semiconductors
- Chairman delle Conferenze Internazionali Materials Research
Society Spring Meeting, European Materials Research Society Conference,
International Conference on Amorphous and Nanocrystalline
Semiconductors
Domenico Caputo è autore di più di 110 articoli su riviste e
conferenze internazionali.
AREA
DIDATTICA Torna
su
Corsi impartiti:
Orario di ricevimento:
- Nel primo semestre dell'a.a. 2012/13 il ricevimento studenti si
terrà
mercoledì mattina dalle ore 10:00 alle ore 13:00.
Prossimi appelli di esami:
- Esame scritto di Elettronica I (5 crediti): 12 aprile alle ore
17:30 in aula 24
- Esame scritto di Elettronica II (5 crediti) e di Elettronica (9
crediti): 11 aprile alle ore 17:30 in aula 24
Sono aperte le prenotazioni su INFOSTUD per entrambi gli appelli
Tesi disponibili:
- Progettazione e sviluppo di sistemi per riconoscimenti
biomolecolare (DNA, tossine)
- Rivelazione di tossine tramite SMART Thin Layer Chromatography
(SMRT TLC)
- Progettazione, realizzazione e caratterizzazione di dispositivi
in silicio amorfo
(fotosensori, diodo differenziale, sensori di temperatura, ecc.)
- Progettazione, realizzazione e testing di circuiti elettronici
per sensori di temperatura
- Tesi compilative su argomenti interesse biomedico/elettronico
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